X射線熒光膜、土壤樣品杯膜、mylar膜/聚丙烯膜、日本理學(xué)/島津/斯派克、EDX邁拉膜/XRF測(cè)試薄膜、美國(guó)Premier樣品膜、X-ray Film  TF-475-3 

      品名：XRF樣品膜Sample Film

      型號(hào)：TF-475-3 

      品牌：美國(guó)Premier Lab (*）

      貨期：現(xiàn)貨

      起訂量：1盒以上。

一、美國(guó)Premier XRF樣品膜：

美國(guó)Premier Lab Supply公司專注于X射線光譜分析XRF的樣品制備領(lǐng)域，以高質(zhì)量和全面的X射線的樣品制備產(chǎn)品線享譽(yù)。

美國(guó)Premier X-ray樣品膜(X-ray Film）以其極低的（幾乎不含）雜質(zhì)和厚度均勻而嚴(yán)格生產(chǎn)，*好的柔韌性和抗化學(xué)腐蝕性，保證檢測(cè)結(jié)果的可靠性和重現(xiàn)性，被廣泛應(yīng)用于XRF樣品制備、檢測(cè)過(guò)程，適用于各類X-ray光譜儀（XRF：WD-XRF、ED-XRF）。

X-ray Film能用于固體、液體、粉末、顆粒、土壤等樣品XRF檢測(cè)，適用于RoHS&WEEE檢測(cè)、油品成份分析、金屬成份分析等。

  7.5μ Kapton膜TF-475-37.5μ Kapton膜TF-475-3

二、Premier 樣品膜特點(diǎn)：

   有卷狀和片狀，多種規(guī)格、尺寸、數(shù)量可供選擇；

   柔韌性強(qiáng)、方便、耐用；

   *佳的X-ray射線穿透性，適合各類XRF光譜儀；

   *佳的抗化學(xué)腐蝕性能，不溶于有機(jī)溶劑，不污染待測(cè)樣品；

   （幾乎不含）痕量雜質(zhì)，特別適合于輕質(zhì)元素的*檢測(cè)。

三、適用于各種品牌X熒光光譜儀XRF：

日本島津shimadzu、牛津儀器Oxford、斯派克Spectro、布魯克Bruker、日本精工SII、日本電子JEOL、日本理學(xué)Rigaku、日本堀場(chǎng)Horiba、熱電Thermo、帕納科Panalytical、尼通Niton、伊諾斯Innox-X、天瑞Skyray、Jordan Valley、ARL、Asoma、Kevex、Metorex、Siemens、Spectrace、Philips、Fisons。

四、XRF樣品膜目錄：

美國(guó)Premier X-ray樣品膜種類：

（1）、Hostaphan膜；

（2）、Kapton膜：聚酰亞胺膜，卡普頓膜；

（3）、Mylar膜：聚酯薄膜，邁拉膜，麥拉膜；

（4）、Polypropylene膜：聚丙烯膜。

目錄編號(hào)

CAT. NO     薄膜材料       厚度              長(zhǎng)度           數(shù)量          描述

TF-475-3     

Kapton膜  7.5μ(0.33mil)       76mm x 91.4m      1卷/盒    Kapton®Roll連續(xù)卷軸